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HAST老化試驗箱是如何突破技術封鎖的？
HAST老化試驗箱加速壽命試驗的目的是提高環境應力(如：溫度)與工作應力(施加給產品的電壓、負荷.等)，加快試驗過程，縮短產品或係統的壽命試驗時間。用於調查分析何時出現電子元器件，和機械零件的摩耗和使用壽命的問題，使用壽命的故障分布函數呈什麽樣的形狀，以及分析失效率上升的原因所進行的試驗。
HAST老化試驗箱廣泛用於IC半導體、連接器、線路板、磁性材料、高分子材料、EVA、光伏組件等行業相關之產品作加速老化壽命試驗。隨著半導體可靠性的提高，目前大多半導體器件能承受長期的THB試驗而不會產生失效，因此HAST老化試驗箱用來確定成品質量的測試時間也相應增加了許多。為了提高試驗效率、減少試驗時間，采用了新的壓力蒸煮鍋試驗方法。用較少的時間就可完成對產品的濕度的測試。在100℃以上的溫度下，通過提高和增加壓力，可以模擬正常濕度測試，同時保持相同的故障機製。幾小時或幾天就能通過產品的老化測試，大大節省了產品開發周期。
如今HAST老化試驗箱可依客戶需求定製非標環境試驗設備，在環境可靠度測試設備產業領域累積豐富的產品研發經驗，充分掌握關鍵零組件的開發，對於材料應用、製程技術、檢測設備等能力，不斷自我挑戰追求良好成本效益，發揮製造優勢及係統整合服務。憑借現代化企業管理，迎合國際環境試驗設備發展前沿，將安全實用、節能環保完美糅合，不斷突破技術壁壘。
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